日時	3月18日 10:00～16:30 (09:30～受付)
会場	六本木ヒルズ森タワー 六本木アカデミーヒルズ40階  会場アクセス 会議室の様子
参加費	無料(事前申込制)
お申し込み方法	ここからお申し込みください
申込締切	定員になり次第締め切らせていただきます。
定員	120名
主催	アリオン株式会社
お申し込みに関する お問い合わせ先	アリオン(株)  03-5488-7368  e-mail: seminar@allion.co.jp

 

スケジュール
10:00～10:25	USB3.0の特徴 このセッションでは次世代USBについてご説明いたします。USB3.0の特徴と変更点などに重点をおいてご説明いたします。
10:25～11:10	SD Card、UHXカード（大容量）とUHSカード（高速タイプ）の動向 SDA（SD Card Association）では、２００９年初頭　米国CESショーに於いて、２Tera－Byteまで 容量拡張が可能なSDXC (eXtended Capacity)を発表しました。 また大容量にふさわしい、高速カード伝送が可能なUHS（Ultra High Speed）モードの審議を行っています。 このセッションでは、これらの技術動向について説明し、ホストシステム、コントローラなどの設計において どのような問題や評価が必要なのかを説明致します。
11:10～12:00	Windows 7到来：Windows7に対応した検証ソリューションのご紹介 2010初頭に発売が予定されているWindows 7は多くの関心を集めています。 Windows対応製品を開発しているメーカーにとって、新しいバージョンのWindowsと自社製品の互換性の確認は必要不可欠です。 当社は各製品向けにWindows 7検証プランをご用意しております。PCメーカーにWindows 7アップグレード対応検証、周辺機器メーカーにはドライバ検証、接続検証、アプリケーション検証などの検証ソリューションを提案しております。 このセッションでは当社が提供するWindows7向け検証ソリューションおよびWindowsロゴ（WHQL）試験についてご紹介いたします。Windowsに対応する機器を開発している方々、ぜひご参加ください。
12:00～13:00	Lunch time
13:10～14:00	DVT（互換性試験）の活用事例のご紹介 昨今の経済状況から、多くの開発部門では、開発予算や人員の削減、残業の禁止など、非常に厳しい状況にあります。 一方では、限られた予算や人的リソースの中で、製品のコストダウンの為の設計見直しや、高い品質の維持が必要です。 DVTとは、開発段階から、当社が評価作業にご協力し、製品出荷前の社内認定、ロゴ取得、ユーザの観点での試験、までお手伝いする長期のテストプログラムです。厳しい環境に於いても、当社のDVTを利用して　予算削減を行いつつ、高い品質の維持を行っている事例をご紹介します。
14:00～15:00	アリオンの「All In One」ロゴ認証ソリューション * 今までロゴ認証試験にかかった費用は高すぎる、更に予算が厳しい状況で、正直困っている * ロゴ認証でなく、電気、信号品質等の部分試験を早く確認したいが、検証環境がない。 * 試験用環境設備の購入やリースを検討したが、どちらも結構な金額なので、現状設備投資は難しい。 * 複数のロゴ認証機関に異なるロゴ認証を依頼してみたが、認証機関の都合に合わせた結果、量産、出荷スケジュールに間に合わなくなった。  * 複数のロゴ認証機関に依頼してみたが、窓口や契約書が一本化できないので、担当者にとって正直面倒くさい。  * ロゴ認証機関から提供された問題点の切り分けや、デバッグサポートを、現状なかなか満足できない。  * 厳しい年間開発予算の中、やっと確保したロゴ認証費用も、問題が起きる度に追加費用が発生し、社内稟議が大変。  製品開発現場の皆様が、これまでにこれらの課題を1つや2つ実感したことはなかったでしょうか？  このセッションでは当社が提供している「All In One」ロゴ認証ソリューションをご紹介いたします。
相談コーナー	ロゴ認証プログラムの取得方法や互換性試験に関する相談をご希望しているお客様に個室での打ち合わせも可能です。　お待たせしない為には、事前予約をお勧めします。ご希望の場合には、予めメール又は電話でご連絡ください。
展示コーナー	- WHQL(Windows Hardware Qualiｔｙ Labs)試験デモブース  - HDMI/HDCP試験デモブース - USBロゴ認証試験デモブース - 日本テクトロニクス株式会社による計測機器の展示およびデモ
15:00	セッション終了予定
16:30	展示終了

※スケジュールの内容は変更される場合がございます。予めご了承ください。